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X射线衍射仪 D8 ADVANCE

X射线衍射仪 D8 ADVANCE

详细信息仪器名称X射线衍射仪仪器型号D8ADVANCE仪器厂商布鲁克主要性能参数 1.扫描方式:θ/θ测角仪,测角仪垂直放置 2.2θ转动范围:-110°~168°,测角仪测量范围2°~168° 3.测角仪半径:≥200mm,测脚圆直径可连续改变 4.可读最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001° 5.驱动方式:步进马达驱动 6.最高定位速度:≥1000°/min 7.验收精度:国际标准
编号
详细介绍

 

详细信息

仪器名称 X射线衍射仪
仪器型号 D8 ADVANCE 仪器厂商 布鲁克
主要性能参数
 1. 扫描方式:θ/θ测角仪,测角仪垂直放置
 2. 2θ转动范围:-110°~168°,测角仪测量范围2°~168°
 3. 测角仪半径:≥200 mm,测脚圆直径可连续改变
 4. 可读最小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001°
 5. 驱动方式:步进马达驱动
 6. 最高定位速度:≥1000 °/min
 7. 验收精度:国际标准样品现场检测,全谱范围内所有峰角度偏差不超过±0.01度
 8. 探测器部分:能量色散阵列探测器
 9. 子探测器个数:>15×190个,探测器有效面积不小于14.4×16 mm
 10. 最大计数:≥1×109 cps
 11. 线性范围:≥4×107 cps
 12. 背景:<0.1 cps
 13. 能量分辨率:优于680eV(相对于CuKa能量分辨率优于8.5%)
 14. 提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试,小角最小从0.3度开始
 15. 扫描模式:零维模式(点探测器),一维模式(阵列探测器),二维模式(面探测器)
 
实验项目或功能
 1. 单扫一张图谱(d值,相对强度)
 2. 晶胞参数测定
 3. 未知样品指标化、晶系确定
 4. 晶粒尺寸、晶格畸变测定
 5. 高分子结晶度测定
 6. 非晶态样结构分析
 7. 阶梯扫描法测定
 8. 粉末法测定晶体结构、物相定量
 
仪器开放时间 工作日(08:30­­–17:30) 仪器状态 正常运行
仪器使用地点 杭州未来科技城健康谷4号楼 203 服务领域 药物化学
仪器预约电话 0571-88583095 E-mail ludahai2008@ldiscover.com.cn

 

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暂未实现,敬请期待
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